一、概述
光譜分析儀是在平時(shí)的光通信波分復(fù)用產(chǎn)品中較常使用到的儀表,當(dāng) WDM 系統(tǒng)剛出現(xiàn)時(shí),多用它測(cè)試信號(hào)波長(zhǎng)和光信噪比。其主要特點(diǎn)是動(dòng)態(tài)范圍大,一般可達(dá) 70dB;靈敏度好,可達(dá) -90dBm;分辨率帶寬小,一般小于 0.1nm;比較適合于測(cè)試光信噪比。另外測(cè)量波長(zhǎng)范圍大,一般在 600~1700nm.,但是測(cè)試波長(zhǎng)精度時(shí)卻不如多波長(zhǎng)計(jì)準(zhǔn)確。
Yokogawa AQ6376 光譜儀
安立 MS9740A 光譜儀
在光譜的測(cè)量、各參考點(diǎn)通路信號(hào)光功率、各參考點(diǎn)光信噪比、光放大器各個(gè)波長(zhǎng)的增益系數(shù)和增益平坦度的測(cè)試都可以使用光譜分析儀。光譜分析儀現(xiàn)在也集成了 WDM 的分析軟件,可以很方便地把 WDM 的各個(gè)波長(zhǎng)的中心頻率、功率、光信噪比等參數(shù)用菜單的方式顯示出來(lái)。
二、常用參數(shù)的測(cè)試
光譜分析儀的屏幕顯示測(cè)量條件、標(biāo)記值、其它數(shù)據(jù)以及測(cè)量波形。屏幕各部分的名稱顯示如下:
圖 1:屏幕各部分的名稱
2.1 光譜譜寬的測(cè)量
譜寬即光譜的帶寬,使用光譜分析儀可以測(cè)量 LD、發(fā)光二極管的譜寬。在光譜的譜寬測(cè)量時(shí),要特別注意光譜分析儀系統(tǒng)分辨率的選擇,即原理上光譜分析儀的分辨率應(yīng)當(dāng)小于被測(cè)信號(hào)譜寬的 1/10.,一般推薦設(shè)置為至少小于被測(cè)信號(hào)譜寬的 1/5。
在實(shí)際的測(cè)量中,為了能夠準(zhǔn)確測(cè)量數(shù)據(jù),一般選擇分辨率帶寬為 0.1nm 以下。分辨率帶寬 RES 位于 SETUP 菜單中的第一項(xiàng),直接輸入所要設(shè)定的分辨率帶寬的大小即可。如下圖 2、3、4 所示(圖中只為區(qū)別光譜形狀的不同),當(dāng)選擇的分辨率帶寬不同時(shí),從光譜分析儀觀察到的光譜形狀有很大的不同,并且所測(cè)量得到的譜寬大小的不同。
圖 2:分辨率帶寬 RES=0.5nm 時(shí)的光譜形狀
圖 3:分辨率帶寬 RES=0.1nm 時(shí)的光譜形狀
圖 4:分辨率帶寬 RES=0.02nm 時(shí)的光譜形狀
在觀察光譜譜寬的同時(shí),也可以通過(guò)光譜分析儀讀出光譜的中心頻率、帶寬、峰值功率和邊模抑制比等參數(shù)。同時(shí)可以啟動(dòng) MARKER 菜單,進(jìn)行相應(yīng)的標(biāo)識(shí),以方便量取所需要測(cè)試的參數(shù)值。
2.2 邊模抑制比的測(cè)量
邊模抑制比(Side-Mode SuppressionRatio,縮寫(xiě)為 SMSR),SMSR 表示峰值能級(jí)與橫模能級(jí)之間的能級(jí)差值。
一般測(cè)量邊模抑制比時(shí),需要配合使用 MARKER 菜單和 ANALYSIS 菜單中相應(yīng)的鍵。用 MARKER 菜單對(duì)主波峰值和最高的副波峰進(jìn)行標(biāo)識(shí),讀取兩者的峰值功率值。邊模抑制比為最高峰與次高峰之間的能級(jí)差??梢酝ㄟ^(guò) ANALYSIS 菜單中相應(yīng)的子選項(xiàng)計(jì)算得到最后的值。
圖 5:邊模抑制比測(cè)量示意圖
2.3 增益的測(cè)量
在進(jìn)行 OA 板或光放大器模塊測(cè)試的時(shí)候,需要測(cè)試增益參數(shù)(Gain)。增益定義為輸出信號(hào)功率 Pout 與輸入信號(hào)功率 Pin 之比。增益的一般表達(dá)式所示:
以上的公式使用于以 mw 為單位的情況。若兩者單位為 dBm,則 G 的值為兩者之差。
在進(jìn)行增益的測(cè)量時(shí),需要用到 TRACE 菜單中的相關(guān)選項(xiàng)。首先將 Trace A 設(shè)置為未接放大器之前的輸入光,按下 Fix A;再將 Trace B 設(shè)置為經(jīng)過(guò)光纖放大器之后的輸出光,按下 Fix B;取兩者的峰值功率,即可計(jì)算出。
圖 6:增益測(cè)量示意圖
在多波的情況下,還可以測(cè)試增益平坦度和增益斜率。其中,增益平坦度為增益的最大值和最小值之間的差值;增益斜率為兩個(gè)波長(zhǎng)在光放大器工作在兩個(gè)增益狀態(tài)變化值的比值。增益斜率主要用來(lái)衡量光放大器的不同波長(zhǎng)增益的相對(duì)變化值,增益斜率越小,說(shuō)明光放大器增益變化時(shí)各波長(zhǎng)的一致性越好,越容易實(shí)現(xiàn)各波長(zhǎng)的增益均衡。
應(yīng)用光譜分析儀進(jìn)行增益斜率的測(cè)量時(shí),需要假設(shè)光放大器工作在兩種增益狀態(tài)(假如為 20dB 和 25dB),然后分別在不同的波長(zhǎng)點(diǎn)如 1550nm、1551nm、1552nm、1553nm 波長(zhǎng)下進(jìn)行增益點(diǎn)的測(cè)量,記錄各波長(zhǎng)點(diǎn)測(cè)試得到的增益值,可以計(jì)算出增益斜率。
2.4 噪聲系數(shù)的測(cè)量
光譜分析儀的一項(xiàng)重要功能是測(cè)量 EDFA 的等效噪聲噪聲系數(shù)(NF),簡(jiǎn)稱噪聲系數(shù)。
首先,光放大器噪聲系數(shù)的一般公式如式所示:
其中右邊第一項(xiàng)是 ASE 噪聲功率,Bw 為測(cè)量譜寬;h 為普朗克常數(shù);v 為中心頻率,即找到軌跡 B 波形的峰值波長(zhǎng)值接著又進(jìn)行了頻率轉(zhuǎn)換后所獲得的值;G 為增益。
目前所有的光譜分析儀一般都采用內(nèi)插減源法、時(shí)域消光法、偏振消光法等光放大器噪聲系數(shù)測(cè)量方法,不同的測(cè)量方法得到不同的噪聲系數(shù)的測(cè)量精度。內(nèi)插減源法采用了曲線擬合的算法。在信號(hào)的波長(zhǎng)中插入 ASE,并采用四點(diǎn)兩次或者更精確的曲線擬合法來(lái)計(jì)算噪聲的大小。
噪聲包含放大過(guò)程中產(chǎn)生的自發(fā)輻射噪聲 PASE 和放大的源噪聲 Gx PASE。其中光譜分析儀多采用的內(nèi)插減源法原理圖如圖 7 所示。
圖 7:光放大器噪聲計(jì)算內(nèi)插減源法原理圖
在利用光譜分析儀進(jìn)行 NF 的測(cè)量時(shí),需要用到 TRACE 菜單和 ANALYSIS 菜單。首先將輸入光纖放大器的輸入光設(shè)置為可寫(xiě)狀態(tài),點(diǎn)擊 writeA,然后固定該軌跡 Fix A;再將從光纖放大器輸出的光的光譜設(shè)置為可寫(xiě)狀態(tài),點(diǎn)擊 writeB,然后固定該軌跡 Fix B;之后再按 ANALYSIS 菜單中選擇 EDFA NF 子選項(xiàng),即可得到光譜分析儀計(jì)算 NF 的結(jié)果。
2.5 系統(tǒng) OSNR 的測(cè)量
在 DWDM 系統(tǒng)中,光信噪比(OSNR)能夠比較準(zhǔn)確地反映信號(hào)質(zhì)量,成為最常用的性能指標(biāo)。
OSNR 的定義如下:
其中:Pi 是第 i 個(gè)通路內(nèi)的信號(hào)功率;Br 是參考光帶寬,通常取 0.1 nm;Bm 是噪聲等效帶寬;Ni 是等效噪聲帶寬 Bm 范圍內(nèi)竄入的噪聲功率。
一般常用的 OSNR 的計(jì)算公式為:
使用光譜分析儀測(cè)量 OSNR 常用的方法是積分法。通常采用光譜分析儀所能提供的最小分辨率帶寬(RBW)掃描待測(cè)光譜,用積分的方法計(jì)算中心頻率左右 Br 范圍內(nèi)的功率為信號(hào)功率,信道中間 Bm 范圍內(nèi)的功率為噪聲功率,兩者相比得到 OSNR。信號(hào)光功率的積分范圍一般取 0.4 nm 的帶寬范圍;噪聲功率的積分范圍要取 0.4 nm 和 0.1 nm 的帶寬范圍內(nèi)的功率。一般用 0.4nm 帶寬范圍內(nèi)的信號(hào)光功率減去 0.4nm 帶寬范圍內(nèi)的噪聲光功率,再用其差值除以 0.1nm 帶寬范圍內(nèi)的噪聲光功率,之后再取 10 倍的對(duì)數(shù)值,可計(jì)算出 OSNR 的大小。
采用積分法測(cè)試信號(hào)和噪聲功率,具體步驟如下:
打開(kāi)測(cè)試波道 OTU,用積分法測(cè)試整個(gè)信號(hào)光譜范圍內(nèi)的功率,記作 P1。
閉測(cè)試波道 OTU,用積分法測(cè)試整個(gè)信號(hào)光譜范圍內(nèi)的功率,記作 P2。
保持 OTU 的關(guān)閉狀態(tài),用積分法測(cè)試等效噪聲帶寬 Br 范圍內(nèi)的功率,記作 P3。為了方便,工程測(cè)試也可以將 P2 值換算到 Bm 范圍的 P3。
計(jì)算 OSNR。
三、總結(jié)
以上所舉的例子都是在平時(shí)使用光譜分析儀時(shí)常用到的一些操作,文中結(jié)合平時(shí)的測(cè)試工作只挑了比較常用的參數(shù)進(jìn)行說(shuō)明,還有很多其他的參數(shù)如何使用光譜分析儀進(jìn)行測(cè)量沒(méi)有進(jìn)行詳細(xì)的闡述,例如在進(jìn)行梳狀濾波器(Interlever)的測(cè)試時(shí)通道隔離度的測(cè)量也可以采用光譜分析儀直接分析得到測(cè)試結(jié)果。
光譜分析儀中的各項(xiàng)菜單的詳細(xì)功能描述需要先閱讀該光譜分析儀的詳細(xì)手冊(cè)。在實(shí)際的測(cè)試中,需要根據(jù)要求來(lái)設(shè)置測(cè)試條件。若能夠熟練使用光譜分析儀將能更加快捷準(zhǔn)確地進(jìn)行相關(guān)指標(biāo)的測(cè)量。